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非接觸式3D表面測量系統

簡要描述:NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole,Pad形狀,pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。 在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性,支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。

  • 產品型號:NanoSystem NVM-6000P
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2021-12-03
  • 訪  問  量:1360

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
應用領域能源,電子,電氣


 NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統

 

surface-profiler-nanosystem-NVM series-500x500.jpg


產品描述

NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統用于PCB基板表面形貌的測量。

基板上的Via Hole,Pad形狀,pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。

在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性,支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。

 

產品規格

掃描范圍:0-180um270um可選)

垂直分辨率:WSI:﹤0.5nm 

臺階高度重復性:0.5%(1σ)

橫向分辨率:0.2-4um(取決于物鏡和FOV

工作臺面:510X405mm(程控)

尺寸:1200(w)X1250(D)X1900(H)

 

應用領域

Nano View系列為LCD(液晶顯示器)、IC Package(芯片封裝)、Substrate(基板)、Build-up PCB(積層板)、MEMS(微機電系統),Engineering Surfaces(工程表面)等等領域提供納米級別精度的量測。包括:PostSpacer,RGB,Charater,Back Pannel,Spray PR,Roughness,VIA hole,Cu Thickness,Cu Pad,Line Profile,Fiber,Array,Semiconductor,MENS,Abraslon,BGA.

 

ISO 25178 · 4287 國際規格標準化數據

按照ISO國際標準機構規定的規格,以圖表、表格、2D•3D圖像的形式大面積顯示粗糙度、高度及幅度等各類數據。

 

圖形的粗糙度評價Roughness evaluation of images

Nano System利用從ISO、ASME、EUR等多家國際標準機構獲得的30多個粗糙度參數來評估Sample的粗糙度。

 

 

 


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