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Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀

簡要描述:Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2020-11-10
  • 訪  問  量:2689

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間100萬-200萬
產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
應用領域電子,航天,汽車,電氣

Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀?是一款適用于各種表面的快速非接觸式三維輪廓儀。XY自動平臺,而Z軸是手動的。納米系統主要是為R&D、高校和過程管理用戶而設計。Nanosystem用自己Patented算法和白光干涉技術創造硬件和軟件。它可以通過拼接函數測量大視場(500mm2)。Patented WSI/PSI技術測量各種表面材料和參數,包括表面紋理、形狀、臺階高度和更高的二維和三維剖面(0.1 nm-垂直和0.2 um-橫向分辨率)。Patented WSI/PSI技術測量各種表面材料和參數,包括表面紋理的2D3D輪廓,形狀,臺階高度及以上(0.1nm-垂直和0.2微米-橫向分辨率)。

白光掃描干涉技術(WSI)是一種測量高分辨率(0.1nm)、高速測量表面積、高度和體積的技術。在不破壞任何破壞的情況下,納米系統的WSI技術(白光掃描干涉法)能在幾秒鐘內從0.1nm10000米范圍內測量樣品,并提供真實的樣品三維形狀。此外,重復性小于0.1%(1σ),無論放大,z軸分辨率為0.1nm?;诩{米系統技術的精度(高精度、重復性和重復性),該產品可廣泛應用于半導體、印刷電路板、顯示、工程部件、化工材料、光學部件、生物、R&D等領域。

Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀提供高分辨率(0.1nm)、10萬倍放大率(10 Mm)和高清晰度圖像,在0.1nm10000 m范圍內,在2秒內測量樣品,提供真實的2D/3D樣品形狀,無需準備(只需將樣品直接放在舞臺上),測量任意尺寸和幾乎任何材料的樣品(反射率為1%)。

 

NV-2400的優點

·       優良的測量精度

·       抗振動設計

·       快速測量速度

·       友好的測量界面

·       Stitching功能

·       2D3D多功能性能

 

主要功能

·       3D 形貌測量

·       粗糙度 (ISO 25178) 和平整度 (選項)

·       高度,深度,寬度(從亞納米到10mm)·

·       面積信息(體積,面積)

·       2D3D 測量

 

 

產品規格

·       干涉物鏡:5個物鏡可選

·       掃描范圍:0-180um270um,5mm可選)

·       垂直分辨率:WSI:﹤0.5nm ,PSI :﹤0.1nm

·       傾斜臺:±6°

·       Z軸行程:100mm(手動)

·       工作臺面:100X100mm(程控)

 

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