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  • NanoSystem CS-2000氣缸內壁光學測量系統

    NanoSystem CS-2000氣缸內壁光學測量系統結合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術之外, 這款緊湊型系統還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產水平能力的三維表面形貌。 它可以測量直徑從70到160毫米的缸孔。

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    更新日期:2020-11-11
  • 奧林巴斯OLYMPUS DSX1000超景深數碼顯微鏡

    奧林巴斯OLYMPUS DSX1000超景深數碼顯微鏡用于觀察和測量各種樣品,包括電子元件和金屬材料。此顯微鏡使用簡單,只要放上樣品,就可以輕松地完成 3D 觀察、測量、報告自動生成等一系列操作。

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    更新日期:2020-10-31
  • 奧林巴斯Olympus STM7工業測量顯微鏡

    奧林巴斯Olympus STM7工業測量顯微鏡系列采用了當前*光學顯微鏡中所使用的UIS2無限遠校正光學系統。因此,觀察到的圖像具有高分辨率和高對比度,此外,像差也被*消除,以確保實現對微小細節的高精度測量。

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    更新日期:2019-10-26
  • NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統

    NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統測為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS,Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測l。NVM-6000P是型設備,用于基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole,Pad形狀,Pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。

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    更新日期:2020-10-31
  • Olympus 3D測量激光顯微鏡OLS5000

    Olympus 3D測量激光顯微鏡OLS5000作為3D測量顯微鏡有著更真實的三維形貌反映能力,具有操作更便捷、更快速的優勢。OLS5000采用計算機直觀控制,搭載的掃描算法,可通過計算機的處理轉換,快速獲得完整帶有高度信息的樣品表面圖像,并通過對樣品不同層面的掃描和計算機處理。在使用時,只要在放置樣品后按動按鈕,設備就會自動進行工作,無需進行復雜的設置調整,即使是不熟練的用戶也可獲準確的檢測結果

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    更新日期:2019-02-11
  • 奧林巴斯Olympus半導體顯微鏡MX63/63L

    奧林巴斯Olympus半導體顯微鏡MX63/63L系統支持檢測尺寸達300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質量。這些符合人體工學設計的人性化系統采用模塊化設計,可在各種應用中實現Z佳觀察條件。結合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時,從觀察到生成報告的整個檢測流程更簡潔直觀。

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    更新日期:2022-11-25
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